使用Axioscan 7数字化系统，不仅可以得到高质量的数字化岩相数据，还能将海量数据共享融入到日常的地质学研究工作中。搭载人工智能图像分析及远程协作功能，Axioscan 7能够让世界各地的地质学研究工作者实现无缝协作，最大限度地发挥定量岩相学以及自动图像分析技术这类现代化技术的优势。
全自动图像采集与蔡司高质量成像技术结合，即便数以千计的样品也能保证优异稳定的成像质量。数分钟内即可完成100个薄片加载与运行，极大降低设置，命名及检测的成本。
使用优化的多通道采集系统，以多种图像模式对样品进行数字化处理，从而生成数据丰富的样品描述。借助自动化平台以及正交偏光，可以对样品的多色性及双折射现象进行分析，而圆偏光可以不受晶粒取向影响，最大限度地体现样品的双折射性质。
贝瑞亚砂岩的多通道图像信息采集。
将采集到的数据从您的虚拟岩相分析显微镜上传到云平台，可在全球进行图像保存和传输，同时也支持在线协作。将整个收藏数字化，以便进行在线和远程教学。将数据整合到现有课程中，实现虚拟实地考察，支持并丰富传统的学习模式。
创新的电动载物台和图像采集系统可在不同明场成像模式之间自动切换，以适应各种应用场景要求。所有数据处理均在线进行，一旦数据采集完成，便可立即优化数据集，使其达到易处理的大小，以供分析、传输或分配。
在标准岩相分析显微镜的基础上更进一步，使用ZEN Pol Viewer可浏览丰富的岩相薄片数据集。软件支持同步样品旋转，与传统的岩相分析光学显微镜中获得的信息保持一致，辅助实验室和在线教学环境中的学习过程，创造出身临其境的岩相体验。
单偏光（PPL）
正交偏光（XPL）
圆偏光
不同形式的偏光照明可用于突出不同特征。单偏光（PPL）可以显示晶体整体颜色、惯态和多色性。多个取向的正交偏光（XPL）可以测量消光角和双折射。圆偏光则可不受晶粒取向影响，观察到最大双折射。在采集过程中，使用强大的计算算法对所有通道进行对齐，产生的数据可用于后续图像分析。
使用单个ZEN Intellesis模型进行基于机器学习的自动化矿物分类，此处应用于两个砂岩样品。
可进行矿物模态，孔隙/晶粒尺寸分析，并自动生成分析报告。
岩石薄片多角度偏光图像。对蓝晶石片岩进行成像，也是数字化岩相工作的一部分。上图为该薄片单个PPL方向上的图像，下图为多个XPL方向上的图像。如此可以模拟载物台旋转，通过XPL在90°内的完整变化，观察和分析消光角。
花岗岩样品中单个黑云母晶粒的近景。在多个PPL方向上对样品成像，以观察样品相对偏光器旋转180°时的多色性。
使用ZEN Connect，从蔡司Axioscan 7 Geo数据丰富的光学显微镜环境开始，直观地建立关联项目。在这里，来自蔡司Mineralogic的其他岩相信息和地球化学信息将成为岩石学研究的下一步。所示样品为来自苏格兰西北部斯库里莫尔的变质辉长岩。
蔡司Axioscan 7与蔡司基于AI的图像分割相结合，可对大量样品进行自动分析。通过易于使用、基于机器学习的图像分割技术，您可以借助直观的绘图界面标记每个感兴趣的矿相，并让软件构建出整个样品的矿物学模型。
可选的PetPAT取向分析包将整个薄片转化为强大的矿物取向成像图。这些数据集可以与矿物分割结合使用，以进行详细研究，也可用于生成晶粒尺寸分布数据。
● 使用XPL序列图像可以计算任何给定像素达到最大或最小亮度时的角度● 使用这些数据可使整个薄片在透射光下成像，以确定矿物晶粒的取向
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若您的常规材料分析应用对人体工程学操作和高效数字化数据记录有较高要求，那么这便是您的理想之选。
偏光显微镜能够可靠地执行复杂任务，提供出色的质量结果。
用于三维分析和样品制备、成像和分析、离子束切割和断层扫描的FIB-SEM。
FE-SEM用于多用途、高分辨率成像和表征。
将FE-SEM技术与高级分析性能和Gemini电子光学系统的优势相结合。